本書(shū)包括：主要種類元器件及其用途、主要元器件性能參數(shù)及其含義、質(zhì)量保證標(biāo)準(zhǔn)及質(zhì)量等級(jí)、元器件監(jiān)制和驗(yàn)收、可靠性試驗(yàn)及可靠性設(shè)計(jì)、靜電和輻射損傷及其防護(hù)、主要元器件應(yīng)用注意事項(xiàng)、失效分析及失效機(jī)理、制造工藝，以及附表。本書(shū)幾乎不涉及深?yuàn)W的數(shù)理知識(shí)，緊密結(jié)合應(yīng)用中的實(shí)際問(wèn)題，深入淺出、通俗易懂、簡(jiǎn)明扼要地?cái)⑹隽伺c元器件有關(guān)的一般要求及應(yīng)用的基本知識(shí)。本書(shū)具有較強(qiáng)的實(shí)用性、可操作性，可供從事元器件質(zhì)量控制、測(cè)試、管理的人員和工程技術(shù)人員查閱和參考。

　　翁榮泉， 1938年生， 福建省福州市人， 1965年畢業(yè)于成都電訊工程學(xué)院半導(dǎo)體專業(yè)， 獲工學(xué)學(xué)士學(xué)位， 高級(jí)工程師。航天科工集團(tuán)某院元器件專家組成員， 北京航天新立科技有限公司元器件技術(shù)顧問(wèn)。長(zhǎng)期從事半導(dǎo)體器件制造工藝以及重點(diǎn)型號(hào)系列元器件的篩選、檢測(cè)和驗(yàn)收等工作。曾榮獲航天科工集團(tuán)某院先進(jìn)工作者、質(zhì)量部型號(hào)突出貢獻(xiàn)獎(jiǎng)等。負(fù)責(zé)和參與了航天科工集團(tuán)某院元器件優(yōu)選目錄、多項(xiàng)元器件技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的編寫(xiě)。研究元器件應(yīng)用課題十余項(xiàng)， 在軍用元器件質(zhì)量保證、失效分析、制造工藝、下廠驗(yàn)收等方面取得了多項(xiàng)研究成果。