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片上系統(tǒng)測試設計與優(yōu)化

片上系統(tǒng)測試設計與優(yōu)化

定 價:¥88.00

作 者: (瑞典)埃里克·拉森著;孫仁杰譯
出版社: 科學出版社
叢編項:
標 簽: 暫缺

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ISBN: 9787030769183 出版時間: 2023-11-01 包裝: 平裝膠訂
開本: 16開 頁數: 字數:  

內容簡介

  本書旨在討論片上系統(tǒng)(SoC)測試的相關問題,包括建模以及片上系統(tǒng)測試解決方案的設計和優(yōu)化。需要測試的系統(tǒng)越來越復雜,測試數據量不斷增加,如何組織測試,即測試調度變得越來越重要。本書主要站在系統(tǒng)級的角度闡明模塊化SoC測試領域的諸多問題?!禕R》本書由三部分組成,在概述經典測試方法的基礎上,介紹測試大型、模塊化和異構SoC面臨的挑戰(zhàn)和困難,并詳細介紹作者團隊為克服上述困難所做的研究工作。

作者簡介

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