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當(dāng)前位置: 首頁出版圖書科學(xué)技術(shù)工業(yè)技術(shù)電工技術(shù)芯片封裝與測試

芯片封裝與測試

芯片封裝與測試

定 價(jià):¥39.00

作 者: 關(guān)赫,龍緒明,李鋒
出版社: 西北工業(yè)大學(xué)出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 暫缺

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ISBN: 9787561282113 出版時(shí)間: 2023-01-01 包裝: 平裝
開本: 16開 頁數(shù): 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡介

  本書全面介紹了集成電路芯片的封裝工藝,內(nèi)容包括集成電路芯片封裝概述、封裝材料、封裝工藝流程、印制電路板、元器件與電路板的接合、優(yōu)選的微電子封裝技術(shù)、封裝的設(shè)計(jì)方法(電氣設(shè)計(jì)、熱設(shè)計(jì)、機(jī)械設(shè)計(jì)等)、封裝的可靠性及可靠性衡量、封裝的失效及失效分析、無源器件封裝技術(shù)、射頻微波芯片封裝技術(shù)、電力電子芯片封裝技術(shù)、MEMS和MOEMS封裝技術(shù)。本書緊密結(jié)合封裝工藝,內(nèi)容全面系統(tǒng),實(shí)用性強(qiáng)。本書可作為職業(yè)院校和高等院校微電子技術(shù)相關(guān)專業(yè)的課程教材,也可作為電子制造工程師的參考書和微電子封裝企業(yè)職工教育培訓(xùn)教材。

作者簡介

  關(guān)赫,博士,碩士研究生導(dǎo)師。畢業(yè)于西安電子科技大學(xué),長期從事微電子集成電路方向研究,主持多項(xiàng)重量及省部級(jí)項(xiàng)目,發(fā)表論文10余篇,申請專利10余項(xiàng),具有豐富的研發(fā)管理經(jīng)驗(yàn)。

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